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JEOL推出高精度和高分辨率的FIB-SEM系统“JIB-PS500i”

关键词:JEOL FIB-SEM系统 “JIB-PS500i”

时间:2023-02-03 10:36:56      来源:JEOL

随着先进材料结构愈发精细化和工艺愈发复杂化,形态观察、元素分析等评价技术对分辨率和精度提出了更高的要求。在半导体行业、电池和材料领域,在为透射电子显微镜(TEM)制备样品时需要“更高的精度”和“更薄的样品”。本产品是可高精度加工的FIB(聚焦离子束)系统和高分辨率SEM(扫描电子显微镜)的组合系统,可满足上述要求。

JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(总裁兼首席执行官:Izumi Oi)宣布于2023年2月1日推出FIB-SEM系统“JIB-PS500i”。

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FIB-SEM 系统“PS500i”(照片:美国商业资讯)

随着先进材料结构愈发精细化和工艺愈发复杂化,形态观察、元素分析等评价技术对分辨率和精度提出了更高的要求。在半导体行业、电池和材料领域,在为透射电子显微镜(TEM)制备样品时需要“更高的精度”和“更薄的样品”。
本产品是可高精度加工的FIB(聚焦离子束)系统和高分辨率SEM(扫描电子显微镜)的组合系统,可满足上述要求。

主要特性

1.FIB镜筒支持高达100nA的大电流镓离子束加工。大电流加工对制备用于大面积成像和分析的截面样品特别有效。此外,FIB镜筒的工作距离更短。加上新开发的电源,低加速电压下的加工性能得到极大的改善。

2.SEM镜筒内置新开发的超级圆锥透镜系统,大大提高了低加速电压下的图像分辨率。这种出色的成像性能对于利用SEM检查薄片样品的端点研磨状态非常有用。

3.JIB-PS500i采用了大型样品室和新开发的样品平台,增加了平台的移动范围,因此可以容纳大型样品。
此外,新开发的STEM检测器可以在平台倾斜90度时使用,支持从TEM样品制备到STEM观察的无缝过渡。

4.图形界面操作采用了在JSM-IT800系列高分辨率扫描电子显微镜中广受好评的“SEM中心”,全面集成EDS分析。

5.双轴倾斜盒和专用TEM支架可实现更精确的对准,同时使样品更容易在TEM和FIB之间的切换。

销售目标

50台/年
产品URL:https://www.jeol.com/products/scientific/fib/JIB-PS500i.php

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