IR推出坚固耐用的600V IR25750 SOT-23电流检测IC

IR推出坚固耐用的IR25750通用电流检测IC，配有极纤巧的SOT23-5L封装，为大电流应用提升整体系统效率并且大幅节省空间。

测量通过功率MOSFET或IGBT的大电流 (10到100A) 往往需要大的电阻器，因此会产生过量的功率损耗 (10到30W)。IR25750可在开关导通时从功率MOSFET的内部导通电阻或IGBT的VCE(on) 提取电压，无需大型外部电流检测电阻器和散热片，还能避免过量的功率损耗。

IR25750的栅极驱动输入为IC提供VCC电源电压，并把导通电阻或VCE(on) 检测电路和MOSFET或IGBT的开关时间进行同步。新器件采用IR的专利高压技术，具有在开关关断时阻断高VDS或VCE电压所需的600V阻断能力。其它主要功能包括低栅极输入电容、导通时的内部滤波延迟 (一般为200纳秒) 以及GATE和CS引脚上的内部20.8V齐纳箝位 (Zener clamp)。

IR亚太区销售副总裁潘大伟表示：“IR25750电流检测IC是新的模块组合，通过功率MOSFET的导通电阻或IGBT的VCE(on) 测量电流，无需大型外部电流检测电阻器。这些功能可大幅提升通用开关型电力电子产品、电机控制和工业设备等大电流应用的效率，并大幅节省空间。”

IR25750在所有输入和输出上均具有集成式防静电能力和卓越的闩锁免疫力，实现无坚不摧的单芯片保护。该器件符合工业级标准和第一级潮湿敏感度 (MSL1) 标准。

规格