惠瑞捷V93000测试系统推出混合信号测试解决方案

测试系统需具备更高的准确度和直流量测能力，才能满足数字信号的测试需求，以及同时测试高性能的模拟和电源管理IP核心。新的系统级封装（SiP）及多芯片封装（MCP）技术需要使用确定良好的晶粒（Known Good Die），因此必须在进行晶圆筛检测试时，执行高性能测试。纳米制程产生了新型态的故障模式（Failure Mechanism），必须加以排除才能提升良率，这对于回收晶圆厂动辄数十亿美元的投资极为重要。经济有效的晶圆层级测试日趋重要，可以尽早在生产阶段的初期，找出故障模式，进而提高良率。先进的硬件具有最佳的扩充性 ，可插入惠瑞捷V93000测试头使用的单槽模块卡每平方公分包含的功能居业界之冠，有助于缩小测试系统的体积和降低成本。消费性电子产品的混合信号测试解决方案包含下列模块卡：

MB AV8（Multi-Band Audio-Video，新一代的模拟式多频段影音标准）模块卡 － 不论核心数或性能等级皆可扩充，相当经济、弹性，在各种不同应用中的适用性非常高，包括专业音响；基频IQ；宽带通讯；高画质及标准画质的电视、机顶盒、数字电视和DVD（BluRay及HD-DVD）等。

Pin Scale 400 － 测试管脚可扩充，以满足大部分消费性IC和晶圆测试的需求，以及适用于更多种消费类IC的接口。入门版的速度为100 Mbps，可升级至每测试通道533+ Mbps和224 M的向量存储空间。

DC Scale VI32 － 只需单一片模块卡，即可弹性地应对多种应用（嵌入式闪存组件、嵌入式电源管理IC、提供精确的参考电压）的需求。量测通道数可由16个扩充到32个，而且每个通道都具有测试码（Pattern）触发能力，可提供最快的测试速度。

DC Scale DPS32 －每片模块卡内建32个量测通道，具有更多组件的测试能力，涵盖更多个电源域（Power Domain），且能进行快速的同步触发，以提高稳定一致性和提供最快的量测速度。