安捷伦推出 LTE/LTE-Advanced 多通道 PXI测试解决方案

安捷伦科技公司日前宣布推出 LTE/LTE-Advanced 多通道 PXI测试解决方案。该方案可加速配置多通道测试系统，有助于工程师进一步完善其复杂的载波聚合和空间多路复用 MIMO 设计。

随着多天线设计需要越来越精密的多通道测试配置，设计和表征用于基站、微蜂窝、微微蜂窝、中继器和移动设备等的元器件和射频子系统变得更加复杂。安捷伦最新测试解决方案能够生成复杂的 LTE/LTE-A 多通道/ MIMO 波形，并能够同时在频域和调制域进行多通道分析。易于使用的图形用户界面可显著缩短测试配置的设置时间。此外，该解决方案还对LTE/LTE-Advanced MIMO 和载波聚合的设置进行了优化。

该解决方案配有机箱背板触发工具，可以配置和发送背板触发，允许两台 PXIe 机箱实现最佳的 MIMO 时间同步。Agilent RF M9381A PXIe 矢量信号发生器搭配 M9391A PXIe 矢量信号分析仪，可以在多通道之间提供小于 0.38% 的 EVM 和小于 20 纳秒的时间同步，由此轻松实现时间同步的 2x2 或 4x4 MIMO 测试。此外，该方案还支持高达 160 MHz 的信号生成和分析带宽，适用于广泛的 LTE-Advanced 载波聚合应用。